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正社員
【パソナキャリア経由での入社実績あり】
【職務内容】
FIB（集束イオンビーム）、SEM、TEMを用いた電子デバイスの構造解析をご担当いただきます。主要な業務は以下の通りです。
・多様な電子顕微鏡観察に適した、様々な方法での微小領域加工。
・分析目的のヒヤリングや測定結果の説明を通した顧客サポート。
・最新技術である多イオン種プラズマFIBを用いた新規応用分野の探索と社外へのPR。
【配属】
株式会社東レリサーチセンター・形態科学研究部第1研究室
※東レ株式会社籍、東レリサーチセンター出向
【東レリサーチセンター・形態科学研究部第1研究室について】
東レリサーチセンター・形態科学研究部第1研究室のTEM技術は高度な前処理から多様な観察・分析を駆使して、産業界のみならず学会でも高い認知度を得ています。当社では最先端のTEM設備と経験豊富な技術スタッフで高難度の受託分析評価を実施しつつ、大学や国立研究所との共同研究なども積極的に実施し、新しい知見を学会発表したり、評価方法を開発する取り組みも実施しています。
| 募集職種 |
技術職系（素材、食品、メディカル、バイオ） > 素材、半導体素材、化成品、バイオ関連 > 基礎・応用研究（素材・半導体素材・化成品・バイオ） 技術職系（素材、食品、メディカル、バイオ） > 素材、半導体素材、化成品、バイオ関連 > 生産技術・生産管理（素材・半導体素材・化成品・バイオ） 技術職系（素材、食品、メディカル、バイオ） > 素材、半導体素材、化成品、バイオ関連 > 品質管理・保証（素材・半導体素材・化成品・バイオ） |
|---|---|
| 雇用形態 | 正社員 |
| 勤務時間 | - |
| 勤務地 | 滋賀県 |
| 交通 | - |
| 給与 | - |
| 待遇・福利厚生 | 経験・スキルに応じて変動します |
| 休日・休暇 | 完全週休二日(土日) |
| 応募資格 | 【必須要件】 ■電子デバイスの物理解析の経験があること ■電子顕微鏡による材料分析の経験があること 【歓迎要件】 ■FIB装置の使用経験があること ■SEM、TEMに関する専門知識 |
|---|---|
| 応募方法 | このページ内の「応募」ボタンよりご応募ください。
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| 選考プロセス | - |
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