【日本マーテック株式会社】【名古屋市／未経験歓迎】FIB分析※半導体などの材料分析◆未経験から分析職へ／台湾大手の検査受託企業【転職支援サービス求人】（契約社員）

掲載予定期間：2024/7/1(月)〜2024/9/29(日)


【名古屋市／未経験歓迎】FIB分析※半導体などの材料分析◆未経験から分析職へ／台湾大手の検査受託企業


～未経験から分析職に就くチャンス／台湾大手／半導体装置メーカー・国立大学・国立研究所等と取引～

■業務内容：
半導体の材料・構造分析を行う当社にて、FIB分析エンジニアとして各種分析・解析業務をお任せします。顧客から依頼を受け、FIB分析ツール使用し分析を行います。実際に顧客立会いのもと分析業務を行うので、顧客の反応やオーダーをリアルタイムで確認しながら業務を進められます。

■業務詳細：
◎ウェーハチップの割断
◎電子顕微鏡で分析箇所の特定
◎FIB加工前の処理
◎分析箇所付近へのマーキング作業など
【変更の範囲：会社の定める業務】

■主な顧客
半導体製造メーカー、自動車業界、研究機関

■職務の特徴：
◎FIB（Focused Ion Beam：集束イオンビーム）はイオン源としてガリウム（Ga）を使用し、金属や酸化物のスパッタリング、成膜、エッチングによるリソグラフィーを行うことができます。
◎FIBに用いられる金属イオン源（Ga）の蒸気圧は6.98×10-38Torrと低く、超高真空を含む様々な真空環境で用いられています。FIBではこのイオン源に強力な電場を加えて溶融させ、その形状をテイラーコーン形状に変化させます。その頂点はGaイオンビームを放出するのに十分な鋭さとなります。エネルギー分散が4.5eV、輝度が106A/cm2srのビームは、10nm以下の領域に集光することができます。
◎FIBシステムは、液体イオン源、集光レンズ、走査レンズ、移動ステージ、ガス導入システム（GIS）、信号検出器から構成されています。金属や酸化物のイオンスパッタリング、成膜、エッチングによるリソグラフィーが可能であり、MEMSにも最適なツールです。

■台湾本社と日本法人：
◎母体となる台湾マーテックは、資本金10億円強で従業員数はグループ全体で約800名。「TEM（透過型電子顕微鏡）による材料解析」「半導体デバイス解析」「回路解析」を展開しています。大手携帯メーカーや大手半導体メーカーからの分析依頼を専属で受け、半導体業界を牽引しています。
◎日本法人でも立地を活かし、EVのなど変化のある自動車業界との関わりを持っています。非常に高価な電子顕微鏡を複数保有し、自動車メーカー最大手からの設備貸出依頼の案件もあります。

【チーム／組織構成】
【その他製品・プロジェクト事例】
【利用するツール・ソフト等】