【日本マーテック株式会社】【名古屋】FIB分析※半導体等の材料分析◆台湾大手の検査受託企業／大手メーカーと取引有／増員募集【転職支援サービス求人】（正社員）

掲載予定期間：2024/11/28(木)〜2025/2/26(水)


【名古屋】FIB分析※半導体等の材料分析◆台湾大手の検査受託企業／大手メーカーと取引有／増員募集


～台湾大手資本の完全独立型分析検査等受託企業／大手半導体メーカー・国立大学・国立研究所等と取引～
■業務内容
半導体の材料・構造分析を行う当社にて、分析エンジニア職として、電子顕微鏡（FIB）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、立ち合い観察などの業務をお任せいたします。
半導体を利用する大手国内企業などに、受託分析設備を貸出し、立ち合い観察をしながら分析を行います。
【変更の範囲：会社の定める業務】

■勤務時間補足
業務に慣れていただきましたら三勤三休制度あり（例 7:30-19:30／19:30-7:30）勤務時間が10時間、休憩120分

■職務の特徴
◎FIB（Focused Ion Beam：集束イオンビーム）はイオン源としてガリウム（Ga）を使用し、金属や酸化物のスパッタリング、成膜、エッチングによるリソグラフィーを行うことができます。
◎FIBに用いられる金属イオン源（Ga）の蒸気圧は6.98×10-38Torrと低く、超高真空を含む様々な真空環境で用いられています。FIBではこのイオン源に強力な電場を加えて溶融させ、その形状をテイラーコーン形状に変化させます。その頂点はGaイオンビームを放出するのに十分な鋭さとなります。エネルギー分散が4.5eV、輝度が106A/cm2srのビームは、10nm以下の領域に集光することができます。
◎FIBシステムは、液体イオン源、集光レンズ、走査レンズ、移動ステージ、ガス導入システム（GIS）、信号検出器から構成されています。金属や酸化物のイオンスパッタリング、成膜、エッチングによるリソグラフィーが可能であり、MEMSにも最適なツールです。

■台湾本社と日本法人
◎母体となる台湾マーテックは、資本金10億円強で従業員数はグループ全体で約1,300名。「TEM（透過型電子顕微鏡）による材料解析」「半導体デバイス解析」「回路解析」を展開しています。大手携帯メーカーや大手半導体メーカーからの分析依頼を専属で受け、半導体業界を牽引しています。
◎日本法人でも立地を活かし、EVのなど変化のある自動車業界との関わりを持っています。非常に高価な電子顕微鏡を複数保有し、自動車メーカー最大手からの設備貸出依頼の案件もあります。

変更の範囲：本文参照

【チーム／組織構成】
【その他製品・プロジェクト事例】
【利用するツール・ソフト等】