【キオクシア株式会社 （旧東芝メモリ）】【四日市】検査・計測技術開発エンジニア（半導体製造前工程）◆業界未経験歓迎◆【転職支援サービス求人】（正社員）

掲載予定期間：2026/6/1(月)〜2026/8/30(日)


【四日市】検査・計測技術開発エンジニア（半導体製造前工程）◆業界未経験歓迎◆


【組織のミッション】
第二生産技術部（検査計測技術担当）は、最先端3Dフラッシュメモリの量産立ち上げ初期フェーズにおける歩留まりと品質のブレイクスルーを実現することが最大のミッションです。
デバイス構造の複雑化（3次元・高積層化）により、不良の検出・原因特定が極めて困難になっており、この難易度が最も高い領域において「製造プロセスが不良を産み出す前に、その予兆を検出・修正する」という、プロセスインテグレーションを実現するチームです。
世界最先端のメモリ技術を守り、市場競争力を維持するため、不良検出技術の革新は不可欠です。ここでの技術開発が、数兆円規模の投資を伴う量産の成否に直結します。

【お任せする業務】
＜業界未経験の方＞
最先端3Dフラッシュメモリの量産化を成功させるために不可欠な、製造ライン（前工程）における検査・計測技術の開発およびデータ解析業務をお任せします。
具体的には、ウェハという半導体の基板が「製造工程を流れている最中（インライン）」に、ナノレベルの「不良の芽」を高速・高精度で検出・修正する技術の創出に携わっていただきます。
＜プロフェッショナル/リーダー候補の方＞
半導体前工程における300mmウェハのインライン検査計測技術開発、データ解析、および量産ラインへの展開・定着化を担っていただきます。

【具体的な仕事内容】
(1)課題特定・技術ロードマップ策定
・デバイス開発部門と連携し、最新の3Dフラッシュメモリ構造における歩留まり改善のクリティカルパスを特定
・必要な検査計測技術の技術ロードマップを策定
(2)最先端インラインモニター技術の開発・導入
・光、X線、電子線、音波などのプローブ技術（ウェハを非接触・インラインで検査するための要素技術）を用いた、最新のインラインモニター技術の研究開発
・装置メーカーとの技術折衝、装置選定、および量産ラインへの設備導入・立ち上げ（プロセスインテグレーション）
(3)データ解析・異常検出技術の構築
・検査計測装置から出力される大量の画像データや数値データを収集・前処理
・機械学習（ML）やディープラーニング（DL）を駆使した画像処理・異常検出アルゴリズムの開発と数値化技術の実現
・解析結果を元に、製造プロセスのボトルネックを特定し、品質管理の精度と生産性の向上を推進

変更の範囲：会社の定める業務

【チーム／組織構成】
【その他製品・プロジェクト事例】
【利用するツール・ソフト等】